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安徽省合肥市高新技術(shù)產(chǎn)業(yè)開(kāi)發(fā)區(qū)科學(xué)大道110號(hào)新材料園F9A號(hào)樓511室
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艾克賽普 Chroma 3280 SD Card 測(cè)試分類機(jī)
名稱：其他儀器與工具
品牌：
型號(hào)：
簡(jiǎn)介：艾克賽普 Chroma 3280 SD Card 測(cè)試分類機(jī)采用創(chuàng)新的技術(shù)整合SD卡測(cè)試機(jī)與 自動(dòng)分類機(jī)的功能，并利用Test-In-Tray的技術(shù)來(lái) 達(dá)到大量平行測(cè)試的能力。透過(guò)支援SD資料傳 輸協(xié)定(SD Protocol Aware)...
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- 產(chǎn)品介紹
對(duì)于低價(jià)的消費(fèi)性產(chǎn)品而言,即使在生產(chǎn)成本上 僅有些微的差距，制造商也會(huì)極為敏感。而這樣 的特性往往是此類消費(fèi)性產(chǎn)品在成品測(cè)試中之一 大挑戰(zhàn)。對(duì)于SD卡類產(chǎn)品而言，為了能夠降低 生產(chǎn)的成本，SD卡類制造商了解在SD卡的制程 中必須采用Known Good Die(KGD)來(lái)進(jìn)行生產(chǎn)。 其主要的原因，乃是因?yàn)椴捎肒GD生產(chǎn)的SD卡類 產(chǎn)品，將可減少在成品測(cè)試中對(duì)于測(cè)試項(xiàng)目的要 求，只需針對(duì)成品封裝過(guò)程中所可能產(chǎn)生的瑕疵 進(jìn)行檢測(cè)，而不需要再對(duì)整個(gè)晶片進(jìn)行完整的測(cè) 試。
艾克賽普 Chroma 3280 SD Card 測(cè)試分類機(jī)整合了測(cè)試機(jī)臺(tái)與自動(dòng)分類機(jī)的功 能，并采用創(chuàng)新的設(shè)計(jì)，滿足采用KGD生產(chǎn)的SD 卡類產(chǎn)品的測(cè)試需求，不論是在機(jī)臺(tái)的成本或是 體積上，都比傳統(tǒng)的測(cè)試機(jī)臺(tái)來(lái)的大幅降低，因 此也就能夠相對(duì)地大幅降低測(cè)試的成本。
艾克賽普 Chroma 3280 SD Card 測(cè)試分類機(jī)提供SD卡高效率的測(cè)試解決方案
Test-In-Tray : 乃是將待測(cè)物置于IC托盤(pán)中直接測(cè) 試的測(cè)試方式。利用這樣的測(cè)試方法，可以大幅 節(jié)省傳統(tǒng)的測(cè)試方法因自動(dòng)分類機(jī)在進(jìn)行測(cè)試 時(shí)，必須以機(jī)器手臂夾取每個(gè)待測(cè)元件所需花取 的索引時(shí)間。因此，提供了一個(gè)最有效率的測(cè)試 方法。在Chroma 3280中,對(duì)于120個(gè)SD卡進(jìn)行測(cè) 試時(shí)所需花費(fèi)的索引時(shí)間大約只有10秒鐘。
高平行測(cè)試能力 : Chroma 3280配備了一個(gè)專屬 的SD卡測(cè)試機(jī)巢 (Test Hive)，此一測(cè)試機(jī)巢提供 了能夠同時(shí)測(cè)試120個(gè)micro SD卡的測(cè)試能力。
SD卡測(cè)試模組 : Firecracker II
Firecracker II的電路設(shè)計(jì)與裝置于3280測(cè)試機(jī)巢 (Test Hive)中的測(cè)試模組其電路設(shè)計(jì)完全一樣。 對(duì)于3280的使用者而言，F(xiàn)irecracker II是一個(gè)相 當(dāng)方便的工具。它能夠使得使用者在與3280離線 的狀態(tài)下，用來(lái)產(chǎn)生或測(cè)試其測(cè)試程式。透過(guò)多 樣化轉(zhuǎn)接介面的設(shè)計(jì)，使用者能在Firecracker II的 左端中插入micro SD, mini SD, SD以及MMC等不同 的待測(cè)物，而將其右邊的USB介面可插入電腦的 USB插槽，配合Firecracker II所提供的軟體程式， 使用者將可進(jìn)行直接的測(cè)試或是除錯(cuò)等工作。
艾克賽普 Chroma 3280 SD Card 測(cè)試分類機(jī)測(cè)試能力
SD Protocol Aware Tests
- Check CID Reg
- Check CSD Reg
- Check OCR Reg
- Check SCR Reg
- Check SD Status
- Functional Test
DC Measurements
- Open/Shorts
- ESD Diodes
- Power Up Idd
- Leakage
艾克賽普 Chroma 3280 SD Card 測(cè)試分類機(jī)軟體功能
- 使用者權(quán)限與密碼管理
- 機(jī)臺(tái)狀況警示偵測(cè)系統(tǒng)
- 視覺(jué)化圖解顯示機(jī)臺(tái)卡件錯(cuò)誤發(fā)生區(qū)域
- 提供離線模擬執(zhí)行模式
- 即時(shí)測(cè)試結(jié)果顯示與更新
- 可個(gè)別指定或取消單一待測(cè)物之測(cè)試
- 測(cè)試良率與UPH資訊顯示
- 多種良率監(jiān)控指標(biāo)設(shè)定
- 測(cè)試中機(jī)臺(tái)開(kāi)門(mén)中斷保護(hù)功能
- 緊急停機(jī)控制功能
- 系統(tǒng)警示紀(jì)錄保存功能
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