艾克賽普 Chroma 3270 微型 IC 測試分類機
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簡介：艾克賽普 Chroma 3270 微型 IC 測試分類機是一款創新的微型 IC 測試分類機，特別適合 CMOS 影像感應組件 (CIS : CMOS Image Sensor) 量產所需，艾克賽普 Chroma 3270 微型 IC 測試分...
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- 產品介紹
艾克賽普 Chroma 3270 微型 IC 測試分類機是一款創新的微型 IC 測試分類機，特別適合 CMOS 影像感應組件 (CIS : CMOS Image Sensor) 量產所需，艾克賽普 Chroma 3270 微型 IC 測試分類機可配合多種不同的封裝類型包括傳統的QFP、TQFP、 μBGA、PGA及CSP封裝。艾克賽普 Chroma 3270 微型 IC 測試分類機采用 Pick & Place 技術，可從JEDEC夾盤來拾取IC，移動到測試位置，然后將測試后產品置于適當之 Tray 盤。
艾克賽普 Chroma 3270 微型 IC 測試分類機能同時處理32個待測物進行平行測試，并提供50˚C~125˚C高溫測試選擇。不但能提高產量，提升生產良率，同時大幅降低測試成本。以下是長沙艾克塞普儀器設備有限公司為您介紹艾克賽普 Chroma 3270 微型 IC 測試分類機的產品特性，如有疑問或者需要相關資料，請聯系長沙艾克賽普儀器設備有限公司www.bjdaisi.com.cn，可提供樣機和相關工程師上門演示溝通，聯系電話：0731-84284278 84284378。
艾克賽普 Chroma 3270 微型 IC 測試分類機產品特性：
適合 CMOS 影像感應組件量產需求
可靠的高速 Pick&Place 分類機
3x3 mm 微型 IC 處理能力
浮動頭可有效率平衡測試壓力
自動測試壓力學習
IC 殘留檢測功能
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