重新定義“儀器檢出限”——安捷倫新品發布會側記
2014-07-17
儀器檢出限（LOD）和定量下限（LLOQ）是儀器分析中常見的名詞術語，當前常用信噪比（S/N）來表示。譬如一般而言，檢出限是3倍信噪比時的分析物的濃度或質量,定量下限是10倍信噪比時的分析物的濃度或質量。不過這些已經被大家熟知且長期使用的儀器靈敏度表示方法很有可能在將來被新的、更可靠的靈敏度性能指標所取代。
在今天上午舉行的安捷倫科技2014質譜新產品發布及研討會上（中華廳，北大博雅國際酒店），安捷倫的質譜專家們在向現場來賓介紹安捷倫最新推出的質譜產品時，反復提到了一個新的術語——Instrument Detection Limit，簡稱為IDL。它是一個基于峰面積相對標準偏差（%RSD）的靈敏度性能指標。以質譜為例，它可以直接反映離子化效率的程度。首先，峰面積%RSD是對一個色譜峰下的離子數的測量精確度的反映。其次，進樣量越低，那么峰面積%RSD越大。第三，在被分析物量相同的情況下，越小的%RSD表示儀器的靈敏度越高。
IDL可以通過一個統計學公式計算而得，以LCMS為例，IDLLCMS = t×(%RSD/100)×被測樣品量，其中，t為數值分布在置信度為99%時的“t”值（自由度=測試重復數-1），被測樣品量一般較之IDL高2-5倍。
當然，安捷倫不會無緣故地花如此多的“篇幅”來介紹這個新的靈敏度指標。這次新品發布會上，正式在中國市場亮相的兩款安捷倫質譜新產品，即6495型QQQ LC/MS和7010型QQQ GC/MS，它們在靈敏度方面較之其各自的上一代產品均有了極大的提升。
為了提高離子傳輸和采集效率，6495采用了全新的Q1離子透鏡和錐形六極桿碰撞池。同時，為了進一步改善離子檢測能力，安捷倫為該產品配置了全新的高能轉換打拿極檢測器。而對于7010而言，其靈敏度的大幅提升主要來自于安捷倫全新設計的EI源。具體講，安捷倫將目前被普遍采用的EI源垂直構型（即燈絲的電子出射方向是垂直正交于樣品流方向）改進為平行構型。這一設計大大提高了離子化效率。
在此次新品發布會上，筆者注意到安捷倫的應用工程師們向在場聽眾展示了很多其上一代質譜產品與新一代質譜產品的比較實驗的數據結果。同時他們也強調，由于靈敏度的提升，安捷倫新一代的質譜產品將可能使用戶以更少量的樣品以及更簡化的樣品處理過程，即可完成分析工作。看起來，安捷倫的6490和7000C將很快結束它們在中國市場的使命。
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