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中茂 Chroma 平面顯示器測(cè)試解決方案
2015-08-13
中茂 Chroma 平面顯示器測(cè)試解決方案于組立段可先以Shorting-bar訊號(hào)來(lái)檢測(cè)面板的各種瑕疵并進(jìn)行雷射修補(bǔ)，進(jìn)入模塊制程后則根據(jù)不同的面板尺寸及背光源特性(CCFL or LED BLU)，再以視頻信號(hào)源搭配可程序電源供應(yīng)器，中茂 Chroma 平面顯示器測(cè)試解決方案利用PC平臺(tái)的人性化的操作接口完成電壓、電流、功率的測(cè)試，并藉由軟硬件相互應(yīng)用分析影像之亮點(diǎn)、壞點(diǎn)、顏色、分辨率等，結(jié)合自動(dòng)化輸送帶的產(chǎn)線設(shè)計(jì)，以系統(tǒng)控管的方式提供數(shù)據(jù)分析之整合性網(wǎng)管功能。長(zhǎng)沙艾克賽普儀器設(shè)備有限公司是中茂 Chroma 在華中地區(qū)授權(quán)代理商，可提供樣機(jī)和相關(guān)工程師上門(mén)演示溝通，以下是長(zhǎng)沙艾克賽普儀器設(shè)備有限公司為您介紹中茂 Chroma 平面顯示器測(cè)試解決方案的系列產(chǎn)品,如果您有任何問(wèn)題或者需要相關(guān)資料，請(qǐng)隨時(shí)聯(lián)系：0731-84284278轉(zhuǎn)801，郵箱：shawn.xiao@hncsw.net。
OLED測(cè)試系統(tǒng)
- Model 58131 OLED 壽命周期測(cè)試系統(tǒng)
- Test for electrical characteristic and brightness
- Thermoelectric cooler controller function (optional)
- Advance OLED life time prediction algorithm
- Model 58166 OLED 面板 Shorting Bar 圖形產(chǎn)生器
- Large size OLED pattern generator
- Flexible waveform editor
- Auto discharge function
- Model 58167 LTPS 面板 Shorting Bar 圖形產(chǎn)生器
- Pattern generator for E-paper or LTPS panels.
- 36 channels output
- Auto discharge function
液晶模組自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)
- Model 58162 LCD Shorting Bar 圖形產(chǎn)生器
- Flexible waveform editor
- PC-based platform
- High slew rate
- Integration with TEC or AOI function (optional)
- Model 58168 LCD Shorting Bar 圖形產(chǎn)生器
- Flexible waveform editor
- High slew rate
- Available for 4 operators in the same time.
- Low cost
- Model 27011 LCM測(cè)試器
- Cost-effective LVDS Tester.
- LVDS 2ch up to 162MHz
- TTL (Optional) signals output
- 12V / 5V output for Vbl
- 12V / 5V / 3.3V output for Vdd
- Model 27012 LCM 測(cè)試器
- Portable LVDS Tester.
- LVDS 2ch up to 162MHz
- TTL (Optional) signals output
- 24V / 12V / 5V output for Vbl
- 12V / 5V / 3.3V output for Vdd
- Model 27013 LCM 測(cè)試器
- Portable LVDS Tester.
- LVDS 4ch up to 330MHz
- Vdd output 3.3~13V / 3.5A programmable
- Vbl by pass outside DC source
- EDID Read / Write / Compare
- Model 29133/29135 液晶模組自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)
- LCM Automatic Test System (ATS).
- LVDS 2ch up to 270MHz (29135)
- 3 channel internal DC Power source
- Power protection OVP/OCP/UVP/UCP
- In-line process control and data collection
- Model 2916 液晶模塊自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)
- LCM Automatic Test System (ATS).
- LVDS 4ch up to 540MHz
- 8 channel DC Power source module
- Power protection OVP/OCP/UVP/UCP
- In-line process control and data collection
- Model 2917 液晶模塊自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)
- LCM Automatic Test System (ATS).
- LVDS 8ch up to 1.08GHz
- 8 channel DC Power source module
- Power protection OVP/OCP/UVP/UCP
- In-line process control and data collection
- Model A712306 液晶模組自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)用閃爍量測(cè)探頭
- Able to integrate with LCM ATS for LCM auto flicker adjustment
- Capable of integrating Chroma 29XX Series LCM Auto Test System
- Support FMA and FLVL flicker measurement mode
液晶模組老化測(cè)試系統(tǒng)
- Model 27010 series 液晶模塊信號(hào)產(chǎn)生卡
- Pattern Generator Card for LCM Burn-in system.
- LVDS 4ch up to 330MHz
- Power OCP protection
- Timing / Pattern Auto / Manual Run
- Cost-effective
- Model 67300 series 直流電源供應(yīng)器(LCM老化測(cè)試應(yīng)用)
- Modular DC Power Supply for LCM Burn-in system.
- High Power Density (464mW / cm3 )
- Remote Sense, 1V Line Loss Compensation
- Remote RS-485 Interface Control
- Cost-effective
電氣安規(guī)分析儀
- Model 19032/19032-P 電氣安規(guī)綜合測(cè)試儀
- 全功能電氣安規(guī)分析儀
- 五合一安規(guī)綜合測(cè)試(交流耐壓/直流耐壓/絕緣電阻/接地電阻/動(dòng)態(tài)泄漏電流)
- 500VA 輸出
- 接地連接(40A)
- 符合各項(xiàng)法規(guī)的人體模擬電路
- Open / Short Check偵測(cè)(OSC)
- GFI人體保護(hù)電路
- 動(dòng)態(tài)泄漏電流掃描裝置
自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)
- Model 7660 顯示器多探頭自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)
- 采用非接觸式量測(cè)設(shè)計(jì)，配備符合 CIE 1931及CIE1976 UCS配色函數(shù)之感應(yīng)器，可精確量測(cè)顯示器面板之輝度與色度均勻度。
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