日立Hitachi AFM5500M 全自動型原子力顯微鏡
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簡介：日立Hitachi AFM5500M 全自動型原子力顯微鏡的特點如下： 1. 自動化功能：高度集成自動化功能追求高效率檢測、降低檢測中的人為操作誤差。 2. 可靠性：排除機械原因造成的誤差、大范圍水平掃描、采用管型掃描器的原子力顯微鏡，針對...
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日立Hitachi AFM5500M 全自動型原子力顯微鏡的特點如下：
1. 自動化功能：高度集成自動化功能追求高效率檢測、降低檢測中的人為操作誤差。
2. 可靠性：排除機械原因造成的誤差、大范圍水平掃描、采用管型掃描器的原子力顯微鏡，針對掃描器圓弧運動所產生的曲面，通常通過軟件校正方式獲得平面數據。但是，用軟件校正方式不能完全消除掃描器圓弧運動的影響，圖片上經常發生扭曲效果。AFM5500M搭載了最新研發的水平掃描器，可實現不受圓弧運動影響的準確測試。高精角度測量，普通的原子力顯微鏡所采用的掃描器，在豎直伸縮的時候，會發生彎曲（crosstalk）。這是圖像在水平方向產生形貌誤差的直接原因。AFM5500M中搭載的全新掃描器，在豎直方向上不會發生彎曲（crosstalk） ，可以得到水平方向沒有扭曲影響的正確圖像。
3. 融合性：親密融合其他檢測分析方式。通過SEM－AFM的共享坐標樣品臺，可實現在同一視野快速的觀察分析樣品的表面形貌，結構，成分，物理特性等。通過分析AFM圖像可以判斷，SEM對比度表征石墨烯層的厚薄。石墨烯層數不同導致表面電位（功函數）的反差。SEM圖像對比度不同，可以通過SPM的高精度3D形貌測量和物理特性分析找到其原因。與其他顯微鏡以及分析儀器聯用正在不斷開發中。
如果您需要日立Hitachi FlexSEM 1000 高新掃描電子顯微鏡及日立品牌儀器、或者其他品牌儀器，均可聯絡我司銷售部門：0731-84284278 84284378。
