布魯克Bruker DektakXT 探針式輪廓儀
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簡介：布魯克Bruker DektakXT 探針式輪廓儀革命性的突破設計創(chuàng)新，實現(xiàn)了垂直高度重復性高達4埃，數(shù)據(jù)采集能力提高了40%。這一里程碑的創(chuàng)新和突破，使得布魯克Bruker DektakXT 探針式輪廓儀實現(xiàn)了納米尺度的表面輪廓測量，從而...
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布魯克Bruker DektakXT 探針式輪廓儀革命性的突破設計創(chuàng)新，實現(xiàn)了垂直高度重復性高達4埃，數(shù)據(jù)采集能力提高了40%。這一里程碑的創(chuàng)新和突破，使得布魯克Bruker DektakXT 探針式輪廓儀實現(xiàn)了納米尺度的表面輪廓測量，從而可以廣泛的應用于微電子器件，半導體，電池，高亮度發(fā)光二極管的研發(fā)以及材料科學領域。布魯克Bruker Dektak 是首臺基于微處理器控制的輪廓儀，首臺實現(xiàn)微米測量的臺階儀，首臺可以達到3D測量的儀器，首臺個人電腦控制的輪廓儀，首臺全自動300mm臺階儀。現(xiàn)在，全新的布魯克Bruker DektakXT 探針式輪廓儀延續(xù)了這種開創(chuàng)性的風格，成為世界第一臺采用具有具有單拱龍門式設計，配備全彩HD攝像機，并且利用64位同步數(shù)據(jù)處理模式完成最佳測量和操作效率的臺階儀。
布魯克Bruker DektakXT 探針式輪廓儀提高測量和數(shù)據(jù)分析速度，首次采用獨特高速的直接驅動掃描樣品臺，布魯克Bruker DektakXT 探針式輪廓儀在不犧牲分辨率和基底噪音水平的前提下，大大縮短了每次掃描的間隔時間，將數(shù)據(jù)采集處理的速度提高40%。另外，布魯克Bruker DektakXT 探針式輪廓儀采用具有64位數(shù)據(jù)采集同步分析的Vision64，可以提高大范圍3D形貌圖的高數(shù)據(jù)量處理速度，并且可以加快數(shù)據(jù)濾波和多次掃描數(shù)據(jù)庫分析的速度。
布魯克Bruker DektakXT 探針式輪廓儀提高操作的可重復性，使用單拱龍門結構設計更堅硬持久不易彎曲損壞，而且降低了周圍環(huán)境中聲音和震動噪音對測量信號的影響。布魯克Bruker DektakXT 探針式輪廓儀會把系統(tǒng)和環(huán)境噪音引起的測量誤差降到最低，能夠更穩(wěn)定可靠的掃描高度小于10nm的臺階，獲得其形貌特征。
布魯克Bruker DektakXT 探針式輪廓儀有完善的數(shù)據(jù)采集和分析系統(tǒng)，與布魯克Bruker DektakXT 探針式輪廓儀的創(chuàng)新性設計相得益彰的配置是布魯克Vision64操作分析軟件。Vision64提供了操作上最實用簡潔的用戶界面，具備智能板塊，可視化的使用流程，以及各種參數(shù)的自助設定以滿足用戶的各種使用要求，快速簡便的實現(xiàn)各種類型數(shù)據(jù)的采集和分析。
布魯克Bruker DektakXT 探針式輪廓儀具有簡便易行的實驗操作系統(tǒng)，布魯克Bruker DektakXT 探針式輪廓儀新穎的探針的部件自動對準裝置，可以盡量避免用戶在裝針的過程中出現(xiàn)針尖損傷等意外。為盡可能滿足所有應用的需求，布魯克提供各種尺寸的標準探針和特制探針。高效率的保證，布魯克Bruker DektakXT 探針式輪廓儀卓越的測量重復性為工程師們提供準確的薄膜厚度和應力測量，使其可以精確調節(jié)刻蝕和鍍膜工藝來提高產品的優(yōu)良率。
如果您需要布魯克Bruker DektakXT 探針式輪廓儀及布魯克品牌儀器、或者其他品牌儀器，均可聯(lián)絡我司銷售部門：0731-84284278 84284378。
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