吉時利 KEITHLEY 自動分析套件
名稱：可編程電源
品牌：
型號：
簡介：吉時利 KEITHLEY 自動分析套件是功能強大的軟件架構，吉時利 KEITHLEY 自動分析套件便于工程師對半導體器件進行各種測試，對其特性進行詳細的分析。吉時利 KEITHLEY 自動分析套件可以與吉時利公司多種業界一流的源測量單元（S...
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吉時利 KEITHLEY 自動分析套件是功能強大的軟件架構，吉時利 KEITHLEY 自動分析套件便于工程師對半導體器件進行各種測試，對其特性進行詳細的分析。吉時利 KEITHLEY 自動分析套件可以與吉時利公司多種業界一流的源測量單元（SMU）儀器及系統配合使用。利用標準的吉時利 KEITHLEY 自動分析套件，可以對在晶圓級或晶匣級對自動探針進行控制。對于手動和單一器件測試，可以考慮ACS Basic Edition. 對于高級多個待測器件晶圓級可靠性測試，可以使用吉時利 KEITHLEY 自動分析套件以及ACS-2600-RTM。以下是艾克賽普為您介紹吉時利 KEITHLEY 自動分析套件的應用范圍，如有相關問題，請聯系長沙艾克賽普儀器儀表公司www.bjdaisi.com.cn，聯系電話：0731-84284278 84284378。
吉時利 KEITHLEY 自動分析套件的不同應用范圍：
組件特性分析
對 MOSFET、雙極晶體管、二極管、高功率IGBT等分立半導體器件的各種深度測試和測量結果進行創建和管理。下面對吉時利公司諸多“測量能力”進行探討和介紹。
C器件特性分析
對各種IC器件和測試結構的諸多深度測試、測量結果及參數采集進行創建和管理，包括MOSFET、MOSCAP、二極管、可靠性測試結果等。下面對吉時利公司諸多“測量能力”進行探討和介紹。
晶圓級可靠性
自動特性分析套件 (ACS)包括與HCI、NBTI、TDDB、EM等有關的各種測試模塊和項目。而且吉時利公司的多種源測量單元儀器和系統已經擴展至多通道并行測試、超快NBTI、超高壓Vds擊穿測試。下面對吉時利公司諸多“測量能力”進行探討和介紹。
模片分類
吉時利公司為半導體器件、傳感器、MEMS以及小型模擬IC的片上模片分類或 已知優良模片(KGD) 測試提供高速解決方案，通過專有的高精密源測量單元（SMU）儀器或IV儀器可以對這類器件進行測試和分裝。下面對吉時利公司諸多“測量能力”進行探討和介紹。
參數測試
自動特性分析套件 (ACS)可用于過程控制監視(PCM)以及其他相關應用。由于它可以與圖形用戶接口（GUI）進行交互，非常適合小批量生產應用以及包含各種半定制硬件配置的實驗室應用。
吉時利 KEITHLEY 自動分析套件的不同應用范圍：
組件特性分析
對 MOSFET、雙極晶體管、二極管、高功率IGBT等分立半導體器件的各種深度測試和測量結果進行創建和管理。下面對吉時利公司諸多“測量能力”進行探討和介紹。
C器件特性分析
對各種IC器件和測試結構的諸多深度測試、測量結果及參數采集進行創建和管理，包括MOSFET、MOSCAP、二極管、可靠性測試結果等。下面對吉時利公司諸多“測量能力”進行探討和介紹。
晶圓級可靠性
自動特性分析套件 (ACS)包括與HCI、NBTI、TDDB、EM等有關的各種測試模塊和項目。而且吉時利公司的多種源測量單元儀器和系統已經擴展至多通道并行測試、超快NBTI、超高壓Vds擊穿測試。下面對吉時利公司諸多“測量能力”進行探討和介紹。
模片分類
吉時利公司為半導體器件、傳感器、MEMS以及小型模擬IC的片上模片分類或 已知優良模片(KGD) 測試提供高速解決方案，通過專有的高精密源測量單元（SMU）儀器或IV儀器可以對這類器件進行測試和分裝。下面對吉時利公司諸多“測量能力”進行探討和介紹。
參數測試
自動特性分析套件 (ACS)可用于過程控制監視(PCM)以及其他相關應用。由于它可以與圖形用戶接口（GUI）進行交互，非常適合小批量生產應用以及包含各種半定制硬件配置的實驗室應用。
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