布魯克Bruker ARTAX X射線熒光光譜儀
名稱：光譜儀
品牌：
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簡介：布魯克Bruker ARTAX X射線熒光光譜儀是第一個商業(yè)化的便攜式微區(qū) X 射線熒光光譜儀，設(shè)計用于滿足對獨特的和貴重的物品如考古和藝術(shù)品進行現(xiàn)場成分分析的需求。 布魯克Bruker ARTAX X射線熒光光譜儀系統(tǒng)可以對Na(11)-...
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布魯克Bruker ARTAX X射線熒光光譜儀是第一個商業(yè)化的便攜式微區(qū) X 射線熒光光譜儀，設(shè)計用于滿足對獨特的和貴重的物品如考古和藝術(shù)品進行現(xiàn)場成分分析的需求。 布魯克Bruker ARTAX X射線熒光光譜儀系統(tǒng)可以對Na(11)-U(92)之間的所有元素進行多元素同時分析，空間分辨率可以達到70微米。 測量采用非破壞、非接觸式方法，調(diào)查過程中不會損害任何物品。30分鐘之內(nèi)就可以在現(xiàn)場安裝和操作布魯克Bruker ARTAX X射線熒光光譜儀。操作布魯克Bruker ARTAX X射線熒光光譜儀惟一需要的就是正常供電。根據(jù)應用要求及可用預算，有幾種配置好的光譜儀可供選擇，這些配置具備不同的功能和用戶舒適度。
以下是艾克賽普為您介紹布魯克Bruker ARTAX X射線熒光光譜儀的技術(shù)參數(shù)，如有相關(guān)問題，請聯(lián)系長沙艾克賽普儀器儀表公司www.bjdaisi.com.cn，聯(lián)系電話：0731-84284278 84284378。
布魯克Bruker ARTAX X射線熒光光譜儀的特點：第四代XFlash®SDD硅漂移探測器，采用帕爾貼冷卻技術(shù)，不需要液氮，沒有任何消耗。分辨率優(yōu)于165eV at MnKa 100Kcps。優(yōu)于145eV分辨率探測器可選。靈活的設(shè)計，樣品檢驗時可以不受空間、樣品尺寸限制。X-Y-Z 三維自動定位跟蹤樣品臺，防碰撞保護，可以自動完成點、線、面掃描功能。配有各種靶材的低功率X射線光管、CCD相機、微聚焦多孔毛細管鏡、XYZ樣品臺、激光定位系統(tǒng)。微聚焦多孔毛細管鏡與準直管相比強度提高1000倍以上。根據(jù)應用要求不同，可提供多種配置。應用于文物保護、文物修復、考古、藝術(shù)品、筆跡鑒定、書畫、刑偵、材料研究、電子、汽車、航空航天等領(lǐng)域。
如果你需要布魯克Bruker ARTAX X射線熒光光譜儀及布魯克品牌儀器、或者其他品牌儀器，均可聯(lián)絡(luò)我司銷售部門：0731-84284278 84284378。
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