布魯克Bruker Anasys nanoIR3-s 納米掃描近場光學成像系統
名稱：光譜儀
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簡介：布魯克Anasys的 nanoIR3-s 系統將散射掃描近場光學顯微鏡（s-SNOM）、納米級紅外光譜（AFM-IR）與原子力顯微鏡（AFM）完美整合到單一平臺。 依托 Anasys 技術在 AFM 納米光學表征方面的領先地位，nanoIR...
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- 產品介紹
布魯克Anasys的 nanoIR3-s 系統將散射掃描近場光學顯微鏡（s-SNOM）、納米級紅外光譜（AFM-IR）與原子力顯微鏡（AFM）完美整合到單一平臺。 依托 Anasys 技術在 AFM 納米光學表征方面的領先地位，nanoIR3-s 可提供納米級紅外光譜、化學成像和光學成像，在 2D 材料樣品上實現 10 納米空間分辨率。 該系統還可以提供達到納米級分辨率的 AFM 形貌和性能成像，因此是對各種材料科學應用開展相關性研究的理想儀器。
石墨烯等離子體
石墨烯等離子體：石墨烯楔上表面等離極化激元（SPP）的 s-SNOM 相位和振幅圖像。 （左圖）s-SNOM 相位與 SPP 駐波線型截面； （右圖） s-SNOM 振幅。 上圖是相位圖的 3D 視圖（左圖）。
高分辨性能成像
高分辨性能成像：通過石墨烯片的橫截面顯示了 10nm 以下分辨率的光學屬性成像。
高性能納米級 FTIR 光譜
超快寬帶s-SNOM光譜，探測分子振動信息。 聚四氟乙烯（PTFE）激光干涉圖顯示，時域（上圖）內發生自由感應衰減形式的相干分子振動。 樣品干涉圖中突出顯示特征的形成原因是，C-F 模式的對稱模式和反對稱模式在所產生的頻域跳動（左下圖）。 單層 pNTP（右下圖）上展示了納米級 FTIR 的單層靈敏度。 數據提供：Markus Raschke 教授，美國科羅拉多大學博爾德分校。
只有 nanoIR3-s 能夠提供：
高性能納米級 FTIR 光譜
高性能紅外近場光譜，采用目前最先進的納米紅外激光源
納米級 FTIR 光譜，采用集成式DFG，可與寬帶同步輻射光源集成
適用于光譜和化學成像的多芯片 QCL 激光源
點光譜技術
POINTspectra 激光器可執行多個波長的光譜分析和高分辨光學成像。 nanoIR3-s讓測試更加簡單：
1.在 AFM 圖像中選擇要測量的特征
2.測量樣品的波譜，選擇感興趣的波長
3.采集高分辨光學屬性圖
根據對多個波長的干涉圖的快速測量，獲得空間分辨率達到 10nm 的振幅和相位圖像 實現 10nm 分辨率Tapping AFM-IR，用于獨特的互補性紅外光譜分析。
寬帶激光選項
納米級 FTIR 光譜，具有最廣泛的可用光譜范圍（670 至 4000 cm?1）
nanoIR3-s系統配備可選的OPO/DFG飛秒激光技術，可提供最廣泛的光譜范圍，以實現高性能組合光譜和高分辨率納米化學成像。這套獨特的功能可以在歷史上無法進入的光譜區域進行廣泛的研究領域的研究。
互補的高分辨率成像
可以生成高質量、高分辨率的納米光學圖像，用于表征各種光學現象，例如六方氮化硼（hBN）中的石墨烯普拉蒙學和表面聲子極化子，以及生物和其他有機樣品的化學成像。
