基于TDR的物理層測試系統
名稱：頻譜分析儀
品牌：
型號：
簡介：基于TDR的物理層測試系統 Agilent物理層測試系統（PLTS）為描述單端或差分物理層元件（如：高速底板、電纜、連接器、數據包和電路板上的控制跡線等）提供了最準確的精度和最完善的工具套件。N1930A PLTS軟件可支持時域反射計（TD...
申請服務
- 產品介紹
基于TDR的物理層測試系統 Agilent物理層測試系統（PLTS）為描述單端或差分物理層元件（如：高速底板、電纜、連接器、數據包和電路板上的控制跡線等）提供了最準確的精度和最完善的工具套件。N1930A PLTS軟件可支持時域反射計（TDR）和4端口的矢量網絡分析儀（VNA）。而且VNA和TDR擁有各種優勢并可生成相似的測量結果。但二者相比，TDR系統的價格更經濟也更便于使用，VNA系統卻可產生更準確且可跟蹤的測量結果。
主要特性與技術指標 •強大的分析工具，包括頻域、時域反射計（TDR）、時域傳輸 （TDT）和眼圖等
•對單端、差分、共模和模式轉換設備進行全面表征
•標準化校準和自動通道校正（de-skew）算法可實現快速可靠的差分測量
PLTS與Agilent TDR相結合，可提供多種儀器控制，如引導設置和校準、錯誤糾正、采集、數據傳輸和高級數據分析工具等。由于測量單端和差分結構的程序非常麻煩且費時，所以經常會引發錯誤，而采用了這種引導過程就會顯著降低錯誤發生的機率。
多種新型高數據速率串行總線標準都要求對輸入差分插入損耗、回波損耗、阻抗以及近端和遠端串擾等進行測量描述。而PLTS可直接對這些參數以及模式轉換分析（用于分析EMI）進行測量。
基于TDR的物理層測試系統組成：
- 86100A/B/C主機
-1個或2個54754A TDR模塊（進行差分頻域分析時需要2個模塊）
- N1930A物理層測試系統軟件
注：物理層測試系統中的每個元件都是單獨提供的。請參閱產品概述，獲得更多詳細信息。
•強大的分析工具，包括頻域、時域反射計（TDR）、時域傳輸 （TDT）和眼圖等
•對單端、差分、共模和模式轉換設備進行完整的特征描述
•借助RLCG參數提取并創建用于模擬程序（如HSPICE）的精確傳輸線模型
•由于采用的標準化及參考平面校準技術超越了傳統的垂直和時基校準技術，從而可通過從測量結果中去除電纜的電延遲和損耗，確保更準確的測量精度。
•通過自動的通道校正（de-skew）算法，實現快速可靠的差分測量
