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匯能HN2600MX/C 電路測試儀
名稱：電路板PCB測試儀
品牌：
型號：
簡介：匯能HN2600MX/C 是一款高性能的線路板測試儀，支持WIN98/WIN2000/WINXP/VISTA操作系統(tǒng)，使用主流USB通信接口，可以實(shí)現(xiàn)數(shù)字邏輯性能測試，數(shù)字邏輯器件在線與離線功能測試，模擬特征分析測試等等。
- 產(chǎn)品介紹
匯能HN2600MX/C 是一款高性能的線路板測試儀，支持WIN98/WIN2000/WINXP/VISTA操作系統(tǒng)，使用主流USB通信接口，可以實(shí)現(xiàn)數(shù)字邏輯性能測試，數(shù)字邏輯器件在線與離線功能測試，模擬特征分析測試等等。
一、主要技術(shù)指標(biāo)：
1．操作系統(tǒng)：支持 WIN98/WIN2000/WINXP/VISTA操作系統(tǒng)。
2．通訊接口：主流的USB接口。
3．?dāng)?shù)字測試通道：40通道，支持驅(qū)動電平 ±（1～15）V。
4．模擬測試通道：160路。
5．總線隔離專用數(shù)字通道：8通道。
6．后驅(qū)動電流：≥300 mA。
7．?dāng)?shù)字通道測試速度： （1～610 Ktv/S）8檔可選。
8．在線提取數(shù)字器件管腳狀態(tài):13種。
9．?dāng)?shù)字器件的閾值電平：TTL、CMOS5、CMOS12、ECL、EIA、3.3V緊/松調(diào)節(jié)；自定義調(diào)節(jié)。
10.程控外供電源（自動控制、自保護(hù)功能）：3.3V/2A、5V/4A、 -5V/2A、+12V/2A、-12V/2A。
11．電源加電延遲時(shí)間：（0.5～7）秒 6檔可選。
12．測試探棒:2組8個(gè)測試口。
13．模擬信號掃描電壓幅度： ±1V～±28V, 步距0.5V可調(diào)。
14．VI分辨率：8～128點(diǎn)/周期。
15．輸出阻抗匹配：100Ω / 1KΩ／10KΩ／100KΩ可選。
16．模擬通道最大測試頻率: 2.6KHZ。
17．脈沖發(fā)生器脈沖幅度：±1V～±28V。
18．電路板網(wǎng)絡(luò)測試通/斷閾值：25Ω±5Ω。
19．腳踏開關(guān)：支持。
二、 主要測試功能：
1.數(shù)字邏輯器件性能（直流參數(shù)）測試：維修實(shí)踐發(fā)現(xiàn)，有些器件的原有功能尚能實(shí)現(xiàn)，但參數(shù)卻發(fā)生了變化，元 件性能表現(xiàn)的很不穩(wěn)定，設(shè)備或電路板仍然不能正常工作，為此天惠公司開發(fā)了針對集成電路直流參數(shù)的測試功能，支持對數(shù)字集成電路的輸入漏電流和輸出驅(qū)動電流等直流參數(shù)測試。如輸入漏電流（Iih,IiL,Vih,ViL）;輸出驅(qū)動電流（IOL，IOh，VOL，VOh）。
2. 數(shù)字邏輯器件在/離線功能測試：能夠?qū)Χ噙壿嬰娖綌?shù)字邏輯器件進(jìn)行在線/離線功能測試；測試器件庫龐大，僅邏輯數(shù)字器件就1 萬多種；測試范圍廣：TTL54/74系列、8000系列、9000系列、CMOS4000系列、ECL、接口器件、俄羅斯器件、西門子器件庫。
3．ASA（VI）模擬特征分析測試：ASA測試通過比較好電路板和故障電路板上相應(yīng)器件管腳的特征曲線差異檢測故障，可把故障定位到電路結(jié)點(diǎn)。ASA測試不涉及器件功能，無論何種元器件，模擬的、數(shù)字的、功能已知的、功能未知的都能檢測；ASA測試是逐管腳進(jìn)行的，基本上不受器件封裝限制，任何封裝形式的器件均可進(jìn)行測試。 ASA測試無需給電路板加電，使用較為安全。
4．單/多端口VI曲線分析比較測試：對器件采取單端口或多端口的VI曲線測試方式；單端口測試方式是指每個(gè)管腳對地提取一遍阻抗特性曲線，而多端口是以任一腳做參考提取一遍VI曲線。
5．ASA 曲線雙棒動態(tài)比較測試：使用雙路探棒對兩塊相同電路板上的相應(yīng)節(jié)點(diǎn)時(shí)時(shí)的進(jìn)行動態(tài)比較測試；當(dāng)被測板上的器件不能使用測試夾測試時(shí)，此種方法最有效。
6．ASA 曲線測試智能提醒功能：當(dāng)使用雙探棒進(jìn)行比較測試時(shí)，如果超差，儀器會出現(xiàn)報(bào)警聲音，引起使用者注意，該測試方法利用微機(jī)喇叭產(chǎn)生類似于萬用表Beep的效果，提高了檢測效率，也大大降低了勞動強(qiáng)度。
7．ASA 測試曲線靈敏度可調(diào)：當(dāng)ASA曲線走勢趨向于45度時(shí)，如果曲線的數(shù)據(jù)發(fā)生變化，曲線就變化明顯，反映故障的觀察靈敏度就越精確，曲線反映故障靈敏度與測試參數(shù)相關(guān)，適當(dāng)調(diào)整測試參數(shù)能夠得到更靈敏的曲線；該測試方法能夠自動搜索出對故障較靈敏的那根曲線，有效的提高了故障檢出率。
8．可按管腳設(shè)置ASA 曲線測試參數(shù)：可根據(jù)具體器件的測試需要，給不同管腳設(shè)置不同的測試參數(shù)，可設(shè)置任一管腳為提取或不提取ASA曲線；大大提高了測試的靈活性。
9．ASA 曲線故障快速定位/查找功能：當(dāng)VI測試出現(xiàn)故障曲線時(shí)，測試儀提供快速的曲線定位/查找功能選項(xiàng)，使用戶觀察曲線更方便、直觀。
10. 對不穩(wěn)定疑難曲線有效識別：增強(qiáng)了對不穩(wěn)定疑難曲線有效識別的判斷水平，降低了誤判率，進(jìn)一步提高了測試準(zhǔn)確度。
11. VI曲線參數(shù)值量化功能：即從被測電路或器件的ASA曲線中可以獲取相應(yīng)的參數(shù)測試值并保存,且能夠用寫字板或OFFICE工具軟件直接進(jìn)行編輯或?yàn)g覽。
12.求取平均曲線的測試功能：用戶可以先測試多個(gè)器件,得到多個(gè)曲線文件,然后利用該功能把多個(gè)曲線文件平均成一個(gè)曲線文件,作為以后的測試比較標(biāo)準(zhǔn)。
13．VI曲線雙板直接對比測試:使用雙路測試夾對兩塊相同電路板（一塊好板和一塊壞板）上的相應(yīng)IC同時(shí)進(jìn)行VI曲線提取、存儲和比較測試，測試效率極高。
14．三端器件測試：完成對三端（含輸入/輸出）分立元件的動態(tài)測試功能，如三極管、可控硅、場效應(yīng)管、繼電器等元件測試。
15．ASA 曲線多種排列/顯示方式：可按比較誤差降序排列顯示曲線，比較誤差升序排列顯示曲線，還可按器件管腳順序排列曲線；可以“按點(diǎn)”或“畫線”來顯示曲線，單個(gè)管腳的曲線可以單獨(dú)放大或縮小。
16．電容、電感定量測試：可直接在離線狀態(tài)下準(zhǔn)確測試電容的容量及漏電阻，并展現(xiàn)出電容在充放電過程中不同的阻值的過程；能夠測試出電感的電感量及串聯(lián)電阻；
17. 電路板圖象建庫測試：通過數(shù)碼相機(jī)或掃描儀將一塊好的電路板輸入到計(jì)算機(jī)內(nèi),在屏幕上就可以對該板上各個(gè)集成電路芯片進(jìn)行編號,以便讓儀器知曉器件所在位置,然后即可對每一個(gè)器件同時(shí)進(jìn)行邏輯功能在線測試及VI曲線掃描測試,從而建立起整板的測試庫,當(dāng)需要維修時(shí),只需將該板從計(jì)算機(jī)軟件內(nèi)調(diào)出,就可以直接對其進(jìn)行故障診斷,適用于批量電路板的維修。
18．?dāng)?shù)字邏輯器件在線狀態(tài)測試：能夠提取13種復(fù)雜的電路在線狀態(tài)，如開路、邏輯翻轉(zhuǎn)信號、非法電平、總線競爭等等狀態(tài)，對測試器件外電路的識別能力強(qiáng)。
19．總線競爭信號隔離功能：用于解除總線競爭，確保正確測試掛在總線上的三態(tài)器件（如74LS373、74LS245、等），可提供8路總線競爭隔離信號。
20．IC型號識別：針對標(biāo)識不清或被擦除型號的器件，可“在線”或“離線”進(jìn)行型號識別測試。
21． LSI大規(guī)模集成電路在線功能及狀態(tài)分析測試：可采取學(xué)習(xí)、比較的方式對一些常見的LSI器件進(jìn)行功能及狀態(tài)分析測試。
22．讀寫存儲器功能測試:直接檢測存儲器SRAM / DRAM芯片的好壞，該測試無需事先學(xué)習(xí)，有獨(dú)立的測試器件庫，可采用在線、離線測試方式。
23．只讀存儲器功能測試：可采取在線（離線）學(xué)習(xí)/比較的測試方法，先把好板上EPROM中的程序讀出來，保存到計(jì)算機(jī)上，再和壞板上的相同器件中的程序進(jìn)行比較測試；測試結(jié)果定位到存儲單元地址上，并打印出該地址正確和錯(cuò)誤的代碼。
24．元器件循環(huán)測試功能：該功能可對數(shù)字邏輯器件、集成運(yùn)放、光耦等器件進(jìn)行重復(fù)測試，直到出現(xiàn)錯(cuò)誤或被終止，易于發(fā)現(xiàn)一些器件的非固定性故障（或稱為軟故障）。
25．?dāng)?shù)字邏輯器件測試閾值可調(diào)功能：閾值電平是指判定器件輸出是邏緝１或邏輯０的門檻電平值。除了給出常用的幾種電平值供直接選取外，還可選自定義。此時(shí)高閾值可輸入為不大于12V，低閾值可輸入為不小于-12V的電平值。通過調(diào)整器件的閾值電平，能夠發(fā)現(xiàn)一些如器件驅(qū)動能力下降導(dǎo)致的電路故障。
26．加電延遲可選功能：當(dāng)遇到被測電路板上的電源、地之間有大的濾波電容時(shí)可用到此功能。該選項(xiàng)是確定在測試儀接通外供電源以后，需要等待多長時(shí)間后才開始進(jìn)行測試。
27．測試夾接觸檢查功能：主要解決當(dāng)測試夾與被測器件接觸不良（如被測器件管腳氧化腐蝕、三防漆打磨不干凈等）時(shí)，造成的測試誤判。
28．運(yùn)算放大器在線功能測試：使用模擬信號測試運(yùn)放在線性放大區(qū)的工作特性，測試技術(shù)或國家發(fā)明專利，有獨(dú)立的測試器件庫，包含LM324、LM348等共計(jì)3000多種。
29. 電壓比較器測試：模擬電壓比較器用于判斷兩個(gè)信號的微小差異，通過本測試儀可以很容易實(shí)現(xiàn)。
30．光電耦合器在線功能測試：由于光耦是電流控制器件，采用電流激勵信號測試，方法科學(xué)嚴(yán)謹(jǐn)，準(zhǔn)確度高；有獨(dú)立的光耦測試器件庫，達(dá)500多種
31．光電耦合器離線直流參數(shù)測試：可在離線情況下對光耦的主要直流參數(shù)（如光電轉(zhuǎn)換系數(shù)等）進(jìn)行測試，解決了由于器件的參數(shù)變化難以發(fā)現(xiàn)的故障現(xiàn)象，提高了故障檢出率；
32．UDT自定義測試平臺：把測試儀的測試通道開放給用戶，由用戶對被測元件或電路的輸入施加激勵信號，然后從輸出采集響應(yīng)信號，類似于函數(shù)發(fā)生器+示波器的測試方法。
33. UDT下AD、DA類器件功能測試：用戶通過UDT控制匯能測試儀，向被測試器件（AD/DA）或電路的輸入施加數(shù)字、模擬激勵信號，從輸出取回相應(yīng)的響應(yīng)信號，通過比較相同激勵信號下，器件/電路的實(shí)測響應(yīng)信號與預(yù)期（標(biāo)準(zhǔn)）響應(yīng)信號的符合程度，實(shí)現(xiàn)故障檢測。
34. AFT電路故障追蹤：AFT可以看成“信號發(fā)生器+示波器”測試方式的直接擴(kuò)充。本測試儀上能夠設(shè)置多種測試信號，并且能把測試信號以及好板電路對測試信號的響應(yīng)，關(guān)聯(lián)在一起存放在計(jì)算機(jī)中——建立用戶自己的電路板測試庫，用于對故障板的測試；也可以把同樣的測試信號同時(shí)加在好、壞板的電路上，直接對照兩者的輸出結(jié)果。
35．電路板網(wǎng)絡(luò)測試:使用模擬信號提取或比較線路板上任意元器件之間的連線關(guān)系，測試時(shí)無須加電，通/斷閾值設(shè)置明確。能夠支持對用戶的標(biāo)準(zhǔn)Protel 網(wǎng)絡(luò)表文件的直接導(dǎo)入,使網(wǎng)絡(luò)中的開路、短路測試變的更加方便和快捷。
36. 晶體管輸出特性曲線測試：可以測出雙極型晶體管的輸出特征曲線、MOS型晶體管的跨導(dǎo)曲線。從曲線上可以檢查交流放大能力大小,以及均勻程度，直觀看到晶體管的三個(gè)區(qū)：截止區(qū)、放大區(qū)、和飽和區(qū)的具體情況。可用于晶體管的篩選，尤其在晶體管配對時(shí)特別有用。
37．填表方式擴(kuò)充模擬器件庫：以填表的方式定義模擬器件的各個(gè)管腳狀態(tài)：如：正輸入腳、負(fù)輸入腳、輸出腳、正電源腳、負(fù)電源腳、接地腳，以及其他狀態(tài)等。
38．以編程方式擴(kuò)充數(shù)字器件庫：采用HNDDL語言，自適應(yīng)技術(shù)完善；把擴(kuò)充程序直接開放給用戶，由用戶自己可以自行填加測試器件庫。
39．元器件速查手冊（電子詞典）：元件庫容量近四萬種，供用戶查閱元器件的名稱、管腳排列、封裝等信息。
40．維修日記：供記錄日常維修的經(jīng)驗(yàn)體會，發(fā)生的重要事情等，長期保存這些資料并積累經(jīng)驗(yàn)，會大大提高維修水平和技能。
41．后臺操作記錄：測試儀會自動記錄測試過程及測試結(jié)果等信息。
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