美國阿濱Arbin SCTS 超電容測試系統
名稱：電池測試儀
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簡介：美國阿濱Arbin SCTS 超電容測試系統是專門為超電容的研發和測試設計的專用系統。美國阿濱Arbin SCTS 超電容測試系統應用范圍從小功率的記憶備份到大功率的汽車動力系統的測試，以及各種中間功率的應用對象。系統具備特別的超電容測試功...
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- 產品介紹
● 充放電循環
● 等效串連/并聯內阻測量
● 漏電流測量
● 容量測試
● 快速上升時間、低噪聲
● 先進的測試軟件
● 快速數據
充/放電循環
功率充/放電循環是比較不同電容之間循環效率一種普通的方法。用電流/功率控制模式，實驗者可以恒電流 /功率放電到電壓下限，然后恒電流/功率充電到電壓上限。這種充放電循環可以重復進行多達32,768次。電容容量的指示參數如電容量，能夠在實驗進程的任何一個時刻得到監測。對于超電容，每個循環之間的持續時間比電池要短得多， 通常只有幾秒到幾分鐘的時間。因此，Arbin的SCTS提供了超電容測試必須的快速數據采集和控制。此外，< 1 ms響應時間的電壓箝位防止了過充。
在線DC-ESR測量
在 SCTS 中，等效串聯電阻（ESR）計算是基于一種脈沖方法對時間域阻抗分析。10 個脈沖以上DC-ESR 的值是通過10個脈沖的平均來得到的。ESR測量功能整合于測試系統，同一實驗中可以得到充/放電循環，容量和漏電流測量以及自放電電壓的監測。在ESR觀測中，一個關鍵的參數是，T1—數據取樣時間，通過調節T1可以對不同的容量范圍和不同類型的電容得到精確的ESR讀數。每個DC ESR測量的時間短于0.4s。
等效并聯電阻和發射漏電流
隨著恒電壓在電容上的施用，電流輸出將穩定在一個小的平衡值(DI/Dt ~ 0 )，叫做發射漏電流。為保證對這個漏電流測量的穩定與精確，Arbin的 SCTS 使用了低噪聲的 DAC 和 ADC 。對于±10~100mA 典型的低電流范圍設置，精度是0.02~0.2mA。恒電壓控制的穩定由低電流范圍中一個分開的控制環來保證。 （注：對于0.5~1F的電容，漏電流通常在1.0mA ~ 10mA的范圍，但在恒電壓控制時，電流的紋波可以稍大于0.2mA。EPR的值必須從平均電流讀數中來確定，能夠通過宏-命令自動的來計算。）
自放電電壓監測和漏電流
自放電或內部漏電流的大小是超電容質量好壞的一個重要指標。這一測量是與發射漏電流并行進行的。 充電電容的開路電壓是相對于時間來監測的。動態漏電流可以從得到的電壓——時間曲線中減掉。既然漏電流隨電壓變化，實驗者可以通過電壓對時間的數據表來調整任何電壓值的計算。宏 - 命令子程序可以很容易的將數據轉換成為自放電電流（或動態漏電流）ISD 。Arbin 的 SCTS 有高的輸入阻抗，適用於電壓和電流的測量（電壓范圍 < 12V 時為~10GΩ）。因此，測量電路不影響電流值的測量。
容量、功率和能量計算
為了適應大多數超電容研究實驗室的普遍使用的數據處理過程與數據格式，Arbin 的MITS Pro 軟件與Microsoft®
Excel 接口，并提供Excel 格式的嵌入宏代碼。使用宏代碼指令子程序（可選）可以自動的將實驗得到的放電電容和能量值轉化成為容量、功率和能量釋放。
在線交流阻抗測量（可選功能）
交流阻抗的測量步驟可以加在實驗程序中進行在線測量 。不同頻率的正弦波電流加在電池上，測量其電位響應以確定交流阻抗。Arbin有兩種類型的ACIM模塊用于交流阻抗的測量：一種是1kHz單一頻率的模塊，另一種是四種頻率200Hz/500Hz/1kHz/2kHz的模塊。每個微處理器單元要安裝一個ACIM模塊，可以帶40個主I/V 通道。
| 阿濱Arbin SCTS-超電容測試系統按要求定制參數范圍 | ||
| 技術 | 線性 | PWM-IGBT |
| 電流范圍 | 0-2000A | ≤500A |
| 電壓范圍 | 0-72V | ≤500A |
| 功率范圍 | ≤40KW | ≤250KW |
| 最多電流量程 | 3 | 2或3 |
| 到最大充放電電流的最小上升時間 | 20μs~2ms | 10~100ms |
| 精度 | 0.02%FSR for V≤24V | 0.2%FSR |
| DAQ速度 | ~100 points/s/PC | ＞50 points/s/PC |
| 特殊功能 |
寬范圍電流和功率 低噪音 快速上升時間 |
高電流，功率和電壓 每瓦低成本 能量回收 極低熱耗 |
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