布魯克 INVENIO R 研究級傅立葉變換紅外（FTIR）光譜儀
2024-01-15
INVENIO R是布魯克推出的研究級傅立葉變換紅外（FTIR）光譜儀的入門級產品。顧名思義，INVENIO 將幫助用戶在要求嚴苛的分析與研發(fā)應用領域實現(xiàn)“發(fā)明”和“發(fā)現(xiàn)”。INVENIO產品的創(chuàng)新技術及其智能精巧的設計為新一代傅立葉變換紅外光譜儀樹立了標 準。新的光路設計將帶來優(yōu)異的信噪比、較寬的光譜范圍（覆蓋從遠紅外至紫外/可見光譜 區(qū)）和最高的靈活性，適用于各種復雜的實驗配置。可選的集成平板電腦觸控界面讓您擁有 簡單的工作流程和舒適的操作體驗。布魯克率先獨創(chuàng)的MultiTect?檢測器技術支持多達5個全自動室溫檢測器。結合獨立的 DigiTect?檢測器位與支持快速MIR測量的Transit?通道，INVENIO內部可配備多達7個 自動檢測器，讓您的日常工作變得更加舒心。
一、應用示例
01 集快速掃描與電化學于一體
此?3D?圖顯示了氰亞鐵酸鹽溶液在-0.3V?到0.8V?電壓區(qū)間內的氧化情況。從反應開始到達到平衡的整個氧化過程中兩個特征帶的變化趨勢均通過快速掃描功能記錄下來，實現(xiàn)了優(yōu)于15?毫秒的時間分辨率。
02 步進掃描TRS
此?OPUS 3D?圖顯示了中紅外激光二極管在啟動后?100?納秒內的情況。無與倫比的納秒級時間分辨率與?2 cm-1?的高光譜分辨率同時實現(xiàn)，從而清晰地解析激光發(fā)射過程中的所有模式。
03 發(fā)射率研究
室溫以上的發(fā)射率測量，用于對太陽能吸收材料特性分析等領域。此光譜圖顯示了在不同的高溫條件下，使用?INVENIO?光束輸入口上安裝的發(fā)射適配附件?A540?和標準室溫檢測器測得的鍍銅表面的光譜圖。
04 布魯克FM光譜
通過?INVENIO?并使用?Platinum Diamond ATR、標準內部紅外源，以及超寬區(qū)間的布魯克?FM?光學元件，一次性測量（無任何區(qū)間間隙）得出的磺胺塞唑從?4000 cm-1?至?80 cm-1光譜圖。
05 半球反射率
此圖顯示的鍍膜玻璃鏡的全反射光譜，使用兩個積分球測得。從約?23000 cm-1?到?400 cm-1的三段不同光譜區(qū)間的完美銜接，是通過兩種不同類型的分束器，以及三個檢測器和自動切換兩個光源來實現(xiàn)的。可見光區(qū)間中的干涉條紋可用于確定鏡面上鍍膜的厚度。
06 多個輸入/輸出口
INVENIO具有卓越的靈活性。在這個簡化的光學圖中，右側的兩個光束輸出端口、左側的一個光束輸出端口，以及右側和后部的兩個光束輸入端口都是可用的。這些端口可用于同時連接外部光源、RAM II FT-Raman模塊、光纖聯(lián)用裝置和HYPERION顯微鏡等設備。
07 TGA 聯(lián)用
此?OPUS 3D?圖顯示了卡馬西平在高達?500°C條件下的熱分解情況。借助?OPUS?軟件中的譜庫與譜庫檢索功能，測得?62°C?左右溫度時的產物為丙酮、230-445°C?溫區(qū)的產物為異氰酸、445°C?以上溫度時的產物為氨。此示例證明，熱重分析（TGA）與傅立葉變換紅外（FTIR）光譜儀的聯(lián)用非常適合跟蹤藥物活性劑的整個分解過程。
08 可見光光譜區(qū)間
使用?8 cm-1?光譜分辨率和不同光闌尺寸，在紫外/可見光區(qū)間和近紅外區(qū)間測得的背景單光束光譜和?100%?線。通過使用內部近紅外光源、近紅外/可見光/紫外寬帶分束器，以及三個?MultiTect??檢測器，實現(xiàn)了最高的短波長效率。
二、特點
優(yōu)化的譜儀尺寸，更適用于實驗室工作臺
密封、干燥的光學平臺，可選擇性地進行吹掃
基于?RockSolid??的無磨損、永久準直干涉儀，讓您能夠輕松地更換分束器
3?個輸出與?2?個輸入光束端口，可通過軟件進行選擇。
OPUS?軟件，方便進行操作和數(shù)據(jù)評估
集成了觸控面板和專用的?OPUS-TOUCH R&D?軟件，實現(xiàn)簡單快捷的實驗操作精致的?LED?指示燈，準確指示儀器狀態(tài)
精致的?LED?指示燈，準確指示儀器狀態(tài)
創(chuàng)新?MultiTect??檢測器技術支持多達?5?個檢測器位
用戶可更換的?DigiTect??檢測器插槽
Transit??通道及集成?MIR DTGS?檢測器，可快速測得透射結果
使用雙通道?24?位動態(tài)區(qū)間?ADC，實現(xiàn)全數(shù)字化信號處理
布魯克?FM?技術，實現(xiàn)?6000 cm-1?至?80 cm-1?中遠紅外譜區(qū)的一次性測量
可實現(xiàn)近紅外、遠紅外和紫外/可見光光譜區(qū)間的輕松升級
卓越的快速掃描、慢速掃描和步進掃描性能，為您生成調制光譜與時間分辨光譜
兼容所有?VERTEX?附件及外部模塊
可選用繞過樣品倉的直接發(fā)射光束路徑
樣品倉蓋可在?3?秒內卸下并裝上
Transit?通道可用于快速進行中紅外透 射測量，而無需占用主樣品倉。
MultiTect?檢測器單元支持多達5個軟 件控制的室溫或電致冷檢測器。
可選的DigiTect?檢測器插槽支持液氮 冷卻型檢測器、快速檢測器、高增益檢測 器及其他檢測器
1.光譜分辨率
INVENIO的光譜分辨率優(yōu)于0.16 cm-1，可滿足幾乎一切測量的要求。無論對于固體和液體等凝聚態(tài)樣品，還是低溫晶相樣品，或是氣相樣品，INVENIO都能勝任。
2.光譜區(qū)間擴展
INVENIO R可選 擇 性 地配備 光 源、任意 數(shù)量的分束器和檢測器，以覆蓋從 15 cm-1至28,000 cm-1，也就是從超遠紅外至中、近紅外，再至可見光和紫外光的整個光譜區(qū)間。得益于永久準直的RockSolid?干涉儀、布魯克獨有MultiTect?檢測器技術、多個內部與外部光源位置和專用于多個光譜區(qū)間的光學元件，譜區(qū)擴展變成了一項十分簡單的任務。
3.布魯克獨有的 FM 技術
布魯克的 FM遠中紅外技術由其獨有的超寬區(qū)間分束器和寬區(qū)間 DLaTGS檢測器組成。通過一次性測量，無需更換任何光學元件，即可生成完整的遠紅外與中紅外光譜。結合標準內部紅外光源與 FM 元件，足以覆蓋從6000 cm-1至80 cm-1的寬區(qū)間。
永久準直干涉儀和內部分束器存放位置，讓您能夠輕松可靠地完成分束器更換。
空間充足，即使大型附件也能存放其中，QuickLock? 支架前端設有鎖定與釋放按鈕。
TGA模塊等多種外部附件均可與 INVENIO聯(lián)用。
4.集成觸控面板
您可以選擇集成觸控面板，輕松完成研發(fā)級工作。該觸控面板不僅可左右移動，而且還能沿兩個軸傾斜。觸控面板PC?中安裝了專用的?OPUS-TOUCH R&D?軟件，有助于簡化工作流程和實現(xiàn)直觀操作。在高端研究應用工作中，還可連接臺式電腦。
5.MultiTect? 檢測器技術
讓人難以置信但千真萬確的事實是，布魯克創(chuàng)新型的 ?MultiTect??檢測器技術可同時自動控制多達 ?5個室溫檢測器。MultiTect??檢測器單元可配置諸如DTGS、InGaAs、硅二極管或?GaP?等各種室溫傅立葉變換紅外（FTIR）檢測器，從而覆蓋從遠紅外至紫外/可見光的整個光譜區(qū)間。信號將由一個?24?位動態(tài)區(qū)間的雙通道?ADC?直接進行數(shù)字化。額外的?DigiTect??檢測器插槽，可用于安裝?MCT?或其它特殊檢測器。
OPUS-TOUCH R&D 軟件的主屏幕（深色用戶背景）
6.Transit? 測量通道
INVENIO 可選擇性地配置一個額外的透射通道，這樣就無需移除主樣品室中的大型附件裝置，從而讓您能夠快速、方便地進行中紅外光譜的測量。Transit? 通道中包含一個專用的中紅外DTGS檢測器，可以安裝用于壓片樣品的支架、用于薄膜樣品的磁性樣品架、用于各類扁平狀樣品的夾具，以及大多數(shù)液體池附件。結合 MultiTect? 與DigiTect? 技術，INVENIO 可配置多達7個內部檢測器，并可通過軟件來自動選擇這些檢測器。
7.光源技術
可同時安裝兩個內部光源與兩個外部光源，并可通過軟件來選擇這些光源，以覆蓋從遠紅外至紫外/可見光的完整光譜范圍。采用新型CenterGlow?技術的標準內部MIR光源可帶來更高的信號強度與穩(wěn)定性。使用右側或后部的輸入端口，光源的輻射將直接導入光譜儀的光闌與濾光器。為實現(xiàn)最高分辨率的發(fā)射率研究或光源表征分析，此功能十分重要。
OPUS-TOUCH 光譜測評與處理功能的顯示界面（淺色用戶背景）
8.新一代智能型研究級光譜儀
INVENIO R 的創(chuàng)新型儀器設計體現(xiàn)在多個方面，例如，樣品室中用于方便更換附件的增強型 QuickLock 功能、用于自動識別的電子編碼窗片和樣品支架、用于驗證與定制專用濾光器的8檔濾光器輪，以及用于高靈敏度檢測器或用于衰減外部光源或激光的內部 5 級自動衰減器輪。新一代電子單元內置 CPU，非常強大，并為日后各種升級與功能擴展做了鋪墊。此外，INVENIO R 的光學元件可隨時進行多個光譜范圍的升級，這樣，您只需購買相應光學元件（光源、分束器和檢測器）即可完成光譜范圍的擴展。總體而言，INVENIO 樹立了新一代智能型研究級傅立葉變換紅外光譜儀的里程碑。
三、外置附件
1.適合于高級應用
INVENIO的樣品室兼容多種采樣裝置，例如，透射測量、ATR、IRRAS、鏡面反射與漫反射裝置、積分球等。此外，當某些特定應用需要對樣品室進行復雜的或大量的實驗搭建，或者需要使用一臺光譜儀交替地執(zhí)行多個應用任務，或者需要騰出內部樣品倉用于進行常規(guī)的測量任務時，您可以選用外置擴展附件。INVENIO有3個輸出和2個輸入光束端口，可用于連接多個附件，例如，PLII光致發(fā)光模塊、RAMIIFT-Raman模塊、熱重分析儀（TGA）、Hyperion系列FTIR顯微鏡、HTS-XT高通量篩選裝置、用于VCD或PM-IRRAS實驗的PMA50模塊，以及XSA外部樣品倉模塊等。擁有所有這些擴展可能性，INVENIO能夠完成幾乎所有的可通過FTIR技術來處理的分析任務。
2.傅立葉變換紅外（FTIR）顯微鏡
憑借全自動紅外化學成像、清晰的樣品觀察以及多種紅外與可見光物鏡，HYPERION 系列顯微鏡將充分地幫助您輕松高效地進行最高靈敏度的微粒分析。HYPERION 的光譜范圍可從中紅外擴展到近紅外譜區(qū)，甚至擴展到 25,000 cm-1的可見光區(qū)。結合使用 HYPERION 與 INVENIO，還能以出色的空間分辨率，完成對微小樣品的發(fā)射率顯微測量。HYPERION 2000是全自動紅外顯微鏡，可配備多個單點檢測器。HYPERION 3000高光譜成像顯微鏡利用了集成的焦平面陣列（FPA）檢測器。
3.聯(lián)用技術
INVENIO與熱重分析（TGA）系統(tǒng)的聯(lián)用，可提供大量額外信息。將熱重分析與傅立葉變換紅外光譜儀結合使用，是同時識別TGA過程中釋放的多種氣體的理想解決方案。TG-FTIR技術能快速、準確地提供材料在不同溫度和其他外界條件變化下的分解結果。
4.FT-Raman模塊
RAMII模塊將快速、簡易的樣品處理功能與FT-Raman具有的出色熒光抑制功能相結合。紅外與拉曼光譜之間的切換可通過軟件輕松完成。RAMII模塊還可與可選的FT-Raman顯微鏡聯(lián)用，并同時與SENTERRAII色散型拉曼顯微鏡結合使用。
5.光致發(fā)光（PL）模塊
PL II光致發(fā)光模塊可用于分析室溫或低溫條件下的化合物半導體材料。PL II模塊內部配置可見光（532納米）或近紅外（1064納米）激發(fā)激光器。此外，可選的激光輸入端口可用于適配輸入外部用戶定制的激光器。
6.偏振調制附件
憑借雙通道 ADC 技術與強大電子單元中的集成解調器，INVENIO 可實現(xiàn)全數(shù)字化信號處理。結合PMA 50和光調制器 (PEM)，可以實現(xiàn)雙調制技術的出色性能，包括用于測量超薄樣品層的光彈性調制紅外反射吸收光譜法（PM-IRRAS），以及針對手性分子的振動圓二色光譜分析法（VCD）。
7.OPUS軟件
布魯克的OPUS軟件是一種簡單易用、強大的、一體化的光譜儀軟件，預安裝于傅立葉變換紅外光譜儀中。它包含最全面的數(shù)據(jù)采集、處理與評價功能，這些功能針對實驗室常規(guī)分析與高端研究領域的應用進行了優(yōu)化。該軟件提供了多種軟件包及功能，可用于反應監(jiān)測、譜庫檢索與識別、多變量量化、3D 數(shù)據(jù)可視化和質量控制向導。OPUS-TOUCH軟件針對INVENIO的集成觸控屏進行了優(yōu)化調整。該觸控軟件具有頂級的觸控用戶界面，讓您能夠直觀、舒適地進行紅外光譜分析。OPUS界面完全可實現(xiàn)定制。無論是對于要求限制操作員權限的質控實驗室，還是對于要求嚴苛、希望從軟件的靈活性與開放權限中獲益的研究級用戶，OPUS都將通過擴展的用戶管理與設置來滿足您的要求。
8.驗證解決方案
如今的分析實驗室必須遵守監(jiān)管要求。布魯克提供了全面的系統(tǒng)驗證，通過完全符合FDA監(jiān)管規(guī)則的現(xiàn)代化數(shù)據(jù)庫，確保數(shù)據(jù)完整性。布魯克的 OPUS驗證程序（OVP）旨在幫助受監(jiān)管的企業(yè)以最具成本效益的方式，遵守GMP/GLP/cGMP要求。此OPUS套件支持使用自動化內部驗證單元（內部濾光器輪）、可追溯標準和藥典儀器資格協(xié)議。OVP允許結合采用相關標準、測試、驗收條件和必要測試間隔來執(zhí)行OQ & PQ驗證測試。
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