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中茂 Chroma 自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)解決方案
2015-08-13
中茂 Chroma 自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)解決方案是結(jié)合機(jī)器視覺(jué)、光源系統(tǒng)與精密運(yùn)動(dòng)控制平臺(tái)的檢測(cè)設(shè)備，具有非接觸、量測(cè)速度快、與檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)一致等優(yōu)勢(shì)。中茂 Chroma 自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)解決方案依技術(shù)可區(qū)分為兩個(gè)應(yīng)用范圍：二維瑕疵檢測(cè)方案與三維形貌量測(cè)方案。長(zhǎng)沙艾克賽普儀器設(shè)備有限公司是中茂 Chroma 在華中地區(qū)授權(quán)代理商，可提供樣機(jī)和相關(guān)工程師上門演示溝通，以下是長(zhǎng)沙艾克賽普儀器設(shè)備有限公司為您介紹中茂 Chroma 自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)解決方案系列產(chǎn)品的詳細(xì)介紹,如果您有任何問(wèn)題或者需要相關(guān)資料，請(qǐng)隨時(shí)聯(lián)系：0731-84284278轉(zhuǎn)801，郵箱：shawn.xiao@hncsw.net。
3D納米顯微儀
- Model 7505-01 多功能光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)
- 7505-01多功能光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)，適合于微奈米及大范圍量測(cè)的應(yīng)用。
- 一機(jī)具備1D、2D、3D量測(cè)能力
- 具備膜后量測(cè)功能(1D)，使用穿透反射式量測(cè)，可進(jìn)行非破壞式膜厚量測(cè)
- 使用高解析度線型掃瞄相機(jī)，可進(jìn)行2D瑕疵量測(cè)，可檢出氣泡、刮傷、異物等瑕疵
- 使用白光干涉量測(cè)技術(shù)，可進(jìn)行3D三維形貌量測(cè)
- Model 7505-02 線上型自動(dòng)化光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)
- 本線上型自動(dòng)化光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)7505-02，主要運(yùn)用高速相機(jī)對(duì)ITO (Indium Tin Oxide)薄膜丶RFID丶FPC等連續(xù)式(Roll to Roll)制程進(jìn)行影像拍攝，是以PC-based為架構(gòu)的線掃描(Line-scan)影像檢測(cè)系統(tǒng)。
- 適用于ITO (Indium Tin Oxide)薄膜丶RFID丶FPC等連續(xù)式(Roll to Roll)制程線上即時(shí)自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)
- 配備高解析度線型掃描相機(jī)，可檢出氣泡及刮傷等臟污及瑕疵
- 使用多支相機(jī)同時(shí)進(jìn)行取像，檢測(cè)速度快
- 配備位置控制和反饋系統(tǒng)，可得到精確及清晰的掃描圖像
- Model 7503 三維光學(xué)輪廓儀
- 三維光學(xué)輪廓儀乃利用掃描白光干涉技術(shù)所發(fā)展之次奈米三維光學(xué)輪廓量測(cè)儀，透過(guò)精密的掃描系統(tǒng)以及創(chuàng)新演算法進(jìn)行微奈米結(jié)構(gòu)物表面輪廓的量測(cè)與分析。并可依據(jù)需求搭配彩色或單色相機(jī)進(jìn)行2D量測(cè)，使系統(tǒng)亦具備工具顯微鏡量測(cè)功能，達(dá)到一機(jī)多用途的目的。
- 階高量測(cè)解析度可達(dá)0.1 nm
- 使用白光干涉量測(cè)技術(shù)，非破壞性、快速表面形貌量測(cè)與分析
- 模組化設(shè)計(jì)可依量測(cè)需求及預(yù)算考量進(jìn)行各部件選配
- 可搭配彩色或單色相機(jī)進(jìn)行2D量測(cè)，使系統(tǒng)亦具備工具顯微鏡量測(cè)功能
光伏自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)
- Model 7200 series 光伏電池片與硅片自動(dòng)化檢測(cè)系統(tǒng)
- Chroma 7200系列就是為了可以檢測(cè)所有產(chǎn)線上生產(chǎn)的硅晶圓以及電池片的瑕疵所設(shè)計(jì)的。
- Model 7201 光伏硅片外觀暨表面臟污檢測(cè)機(jī)
- 光伏硅片外觀暨表面臟污檢測(cè)
- RGB LED光源頻閃式設(shè)計(jì)
- 高速檢測(cè)
- Model 7202 光伏硅片品質(zhì)檢測(cè)機(jī)
- 硅片品質(zhì)檢測(cè)
- 精準(zhǔn)計(jì)算類單晶晶格比例
- 孔洞與缺角檢測(cè)
- Model 7211-D 光伏電池片顏色分選機(jī)
- 光伏電池片顏色分選
- 最接近人眼視覺(jué)效果的CIELAB色彩空間檢測(cè)原理
- 無(wú)上限的分色類別設(shè)定
- Model 7212-HS 光伏電池片正面印刷暨表面臟污檢測(cè)機(jī)
- 光伏電池片正面印刷暨表面臟污檢測(cè)
- 可檢測(cè)到最細(xì)微36um/pixel的網(wǎng)印Finger線
- 可安裝于前端網(wǎng)版印刷制程或者后端出貨分類制程
- Model 7213-AD 光伏電池片背面印刷暨表面臟污檢測(cè)機(jī)
- 光伏電池片背面印刷暨表面臟污檢測(cè)
- V型缺角以及剝落類型的瑕疵檢測(cè)
- 可安裝于前端網(wǎng)版印刷制程或者后端出貨分類制程
- Model 7214-D 光伏電池片抗反射層鍍膜檢測(cè)機(jī)
- 抗反射層鍍膜檢測(cè)
- 瑕疵與鍍膜不均勻的檢測(cè)
- 可安裝于前端PECVD制程之后或者安裝于網(wǎng)版印刷制程之前
- Model 7231 光伏硅片線鋸痕檢測(cè)機(jī)
- 光伏硅片線鋸痕檢測(cè)
- 符合EN-50513 2009的檢測(cè)手法
- 高度可靠的檢測(cè)結(jié)果
自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)
- Model 7936 雙面晶圓檢測(cè)系統(tǒng)
- It can do double side inspection simultaneously
- Maximum 8 inch wafer handling capability(10 inch inspection area)
- Model 7935 晶圓檢測(cè)系統(tǒng)
- 應(yīng)用于8吋以下晶粒外觀檢查。
- 最大可檢測(cè)8”晶圓 (檢測(cè)區(qū)域達(dá)10“范圍 )
- 適合LED, 雷射二極體及影像感測(cè)器等產(chǎn)業(yè)
- 影像辨識(shí)成功率高達(dá)98%
- 可結(jié)合上游測(cè)試機(jī)晶粒資料，合并后上傳至下一道制程設(shè)備
影像傳感器檢測(cè)系統(tǒng)
- Model 7970 影像傳感器檢測(cè)系統(tǒng)
- Chroma 7970 影像感測(cè)器檢測(cè)系統(tǒng)為一自動(dòng)化載盤式外觀檢測(cè)系統(tǒng)，可檢測(cè)影像感測(cè)器正反兩面外觀瑕疵。
- 提供完整的影像感測(cè)器玻璃面與錫球面外觀檢測(cè)功能
- 可大幅降低處理時(shí)間之定速連續(xù)取像功能
- 已申請(qǐng)專利的多吸嘴吸取功能可增加整體檢測(cè)速度
- 先進(jìn)的光源系統(tǒng)可適用于不同的瑕疵類型
液晶/顯示器自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)
- Model 7310 實(shí)體影像顯微檢視儀
- 以高解析度彩色CCD 攝影機(jī)為基礎(chǔ)的顯微影像檢視系統(tǒng)，其可透過(guò)彩色電視機(jī)、電腦螢?zāi)换蛞曈嵧队皺C(jī)等各式顯示器來(lái)觀察細(xì)小的物體。
- 操作簡(jiǎn)便。
- 檢測(cè)畫(huà)面停格功能
- 影像畫(huà)面比對(duì)功能
- 多種導(dǎo)光罩設(shè)計(jì)以便利觀測(cè)使用所需
- 用途廣泛
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